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DIL 502 Expedis® Serie

Die Dilatometrie (DIL) ist eine präzise Analysetechnik, mit der sich Dimensionsänderungen von Materialien in Abhängigkeit von Temperatur und/oder Zeit messen lassen. Die Technik liefert wichtige Informationen über wesentliche Materialeigenschaften. Diese Messungen sind sowohl für die Qualitätssicherung als auch für die Weiterentwicklung der Materialforschung von grundlegender Bedeutung.

Infos / Datenblatt

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NanoEye – Optoelektronisches Messsystem

In der klassischen Dilatometrie führt eine Erhöhung der Auflösung häufig zu einer Verringerung des Messbereichs und umgekehrt. Das NanoEye-System überwindet diesen Konflikt und bietet neben einer hohen Auflösung einen unübertroffenen Messbereich. Es erreicht eine perfekte Linearität bei der Messung der thermischen Ausdehnung und übertrifft damit konventionelle Systeme.

Funktionsprinzip:

Dehnt sich eine Probe während einer Messung aus, bewegen sich alle grünen Komponenten in der Grafik durch Linearführung (blau) nach hinten. Der optische Encoder bestimmt die zugehörige Längenänderung direkt auf der entsprechenden Skala.

DIL Funktionsweise

Die DIL 502 Expedis® Serie unterstützt bei:

  • Optimierungen von Sinternprozessen
  • Untersuchungen von Temperatur-Zeit-Längen-Beziehungen von Metallen und Legierungen
  • Materialverträglichkeit von Verbundswerkstoffen
  • Optimierung der Polymerverarbeitung
  • Bestimmung des thermischen Verhaltens von feuerfesten Materialien

Vorteile des DIL 502 Expedis® Classic:

  • Maximaler Temperaturbereich von RT bis 1600 °C
  • Quarzglas- und/oder Siliciumcarbid-Ofen als Einzel- oder Doppelofen
  • Maximale Heizrate von bis zu 50 K/min
  • Messbereich und Auflösung: ± 5 mm; 2 nm
  • Gasatmosphäre: inert, oxidierend unter statischen oder dynamischen Bedingungen
  • Proteus®-Software (inklusive Gerätelizenz)

Vorteile des DIL 502 Expedis® Select & Supreme:

  • Maximaler Temperaturbereich der Select-Version: -180 bis 2000 °C
  • Maximaler Temperaturbereich der Supreme-Version: -180 bis 2800 °C
  • Kupfer-, Stahl- Quarzglas-, Siliciumcarbid-, Rhodium- und/oder Graphitofen als Einzel- oder Doppelofen
  • Maximale Heizrate ist abhängig vom Ofen (mindestens 50 K/min)
  • Messbereich und Auflösung der Select-Version: ± 10 mm; 1 nm
  • Messbereich und Auflösung der Supreme-Version: ± 25 mm; 0,1 nm
  • Gasatmosphäre: inert, oxidierend, reduzierend, Vakuum
  • Proteus®-Software (inklusive Gerätelizenz)

Weitere Informationen finden Sie im technischen Datenblatt oder in der Broschüre.