Semplor NANOS EBSD
NANOS EBSD
With integrated EBSD capability
Kombinieren Sie hochauflösende REM-Bildgebung mit EBSD-Analyse in einem kompakten, einfach zu bedienenden Tischsystem. Durch die Analyse von Beugungsmustern lassen sich mikrostrukturelle Informationen wie Kristallorientierung, Phase und Kornstruktur präzise erfassen. In Kombination mit EDS ermöglicht das System zudem eine integrierte elementare und kristallographische Analyse.
Infos / Datenblatt
Euzentrische Neigung: der Schlüssel zu nahtlosem EBSD
Die Kombination aus euzentrischer Neigung und EBSD ermöglicht einen nahtlosen Arbeitsablauf zwischen Bildgebung und kristallographischer Analyse. Die Probe kann sowohl bei 0° als auch in der 70° EBSD-Position abgebildet werden, indem lediglich der Probentisch geneigt wird – ohne das Vakuum zu unterbrechen oder die Probe neu zu positionieren.
Dank der euzentrischen Neigung bleiben Bildfeld, Arbeitsabstand und Fokus während des Neigens erhalten. Dadurch kann ein während der Bildgebung identifizierter Bereich direkt in die EBSD-Position gebracht werden, ohne diesen Bereich zu verlieren. Der Wechsel zwischen Bildgebung und EBSD wird dadurch schnell, intuitiv und hoch reproduzierbar.
Produktmerkmale:
- Auflösung: < 8 nm
- Integriertes EBSD + EDS
- Euzentrische Neigung bis 70°: Der untersuchte Bereich bleibt während des Neigens zentriert und im Fokus.
- Kristallographische Analyse im Tisch-REM: Informationen zu Kristallorientierung und Kristallstruktur direkt mit einem Tisch-REM erfassen.
- Schnelle und zuverlässige Orientierungskartierung: Kristallorientierungen über die Probe hinweg schnell erfassen und kartieren.
- Phasenidentifikation: Unterschiedliche kristalline Phasen identifizieren und voneinander unterscheiden.
- Kompaktes und integriertes Design: Vollständig integrierte EBSD-Funktionalität in einem kompakten System.
- Kombinierte EDS- und EBSD-Plattform
Einfacher Wechsel zwischen EDS- und EBSD-Analyse innerhalb desselben Systems.